仪器详细信息
Hitachi S-4700 FE-SEM 是一款冷场发射高分辨率扫描电子显微镜 显微镜。该 SEM 可以对薄膜和半导体进行超高分辨率成像 非常干净的样本上的材料。它也适用于聚合物材料。 S-4700 配置为检测二次电子和背散射电子以及 特征X射线。该系统是完全自动化的，并通过易于使用的方式进行操作 菜单驱动的软件。
功能
- 加速电压从 1–30 kV
- Everhar-Thornley 二次电子探测器
- 可伸缩罗宾逊背散射电子探测器
- 透过透镜二次电子探测器
供应商
日立
培训
电子培训
此仪器提供免费在线电子培训。这个自定进度的教程和 参考内容不能取代授权使用的课程要求。