仪器详细信息
FEI Philips XL 40 环境扫描显微镜 (ESEM) 是一款大腔室、 钨源、环境扫描电子显微镜可高低 真空成像。 FEI Philips XL 40 ESEM 还能够对水合和 污染的样品。先进的配件包括薄窗能量分散器 光谱仪 (EDS) 和热台或冷台。该系统通过易于使用的方式进行操作 使用Windows用户界面的软件控制。 ESEM 可用于有机 和无机扫描电子分析。
功能
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二次电子探测器
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背散射电子探测器
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Oxford UltiMax 175 大角度 X 射线能量色散光谱仪 (EDS)
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牛津 HKL 电子背散射衍射 (EBSD) 探测器
供应商
飞利浦