位置 矿物与材料工程大楼 (M&M) 431 联系方式 保罗·伯格斯特罗姆 microfabrication@mtu.edu 906-487-2058 访问类型 FOM 说明 椭圆偏振仪能够测量薄膜厚度和折射率 包括电介质的薄膜堆叠。
