足球比赛结果 JA Woollam V-VASE 光谱椭偏仪

位置

矿物与材料工程大楼 (M&M) 431

联系方式

瑞安·比舍尔

microfabrication@mtu.edu

989-225-2141

访问类型

FOM

说明

椭圆偏振仪能够测量薄膜厚度和折射率 包括电介质的薄膜堆叠。