位置
巧克力豆 615
日历名称
ACMAL-螺旋钻
访问类型
日志
仪器详细信息
Perkin Elmer PHI-660 扫描俄歇微探针可用于成分分析 使用俄歇电子能谱 (AES) 分析样品表面。探头深度 AES 的数量级只有几个原子层，因此可以执行 具有亚微米空间分辨率的成分分析。 AES 能够检测 原子序数为 3 至 50 的元素，但对轻物更敏感 元素。
此外，表面处和表面附近的组件的深度分布可以是 使用 AES 与惰性离子溅射结合测定。微探针软件 软件包包括 AugerScan，用于螺旋电子采集和数据操作， 和 AugerMap，用于扫描控制和元素映射。
功能
该设施利用扫描俄歇微探针，可以分析表面 使用具有亚微米空间分辨率的俄歇电子能谱 (AES) 进行合成。 该微探针用于生产：
- 俄歇光谱
- 表面的二次电子图像
- 基本线扫描和地图
- 和深度剖面。
表面及其附近组件的深度分布可以通过使用来评估 AES 与惰性离子溅射相结合。
- 俄歇光谱是通过检测发射的 X 射线和俄歇电子获得的， 每个元素都拥有父元素的能量特征。
- AES 可以检测除 H 和 He 之外的所有元素。
- AES 对轻元素最敏感。然而，光谱仅具有代表性 最顶层原子层中的元素。
- 惰性离子溅射工艺使用离子枪将惰性气体离子加速到 样品表面，去除近表面原子。
- 溅射可与 AES 结合使用来生成元素深度剖面 这对于确定最接近的成分层的厚度很有用 表面。
Phi660 已升级为2002 年。升级包括新的计算机控制板、电缆和软件。 基于 Windows 的现代软件包包括俄歇扫描用于螺旋电子采集和数据处理以及俄歇地图用于扫描控制和元素映射。
培训
课程
足球比赛结果提供许多与材料相关的本科生和研究生课程 表征。
其中之一与表面方法有关。