日立 FB-2000A FIB 培训索引 基础科学 形式和功能:第 1 部分 - 操作 形式和功能:第 2 部分 - 应用 内部组件 安全程序 样本制备 支架类型 准备选项 操作程序 初步 启动 标本交换 对齐 提出技术 用于提升技术的沉积 用于提升技术的粗铣 着陆用于提升技术第 1 部分的探针 着陆用于提升技术第 2 部分的探针 用于提升技术的精铣 钨沉积 位图图像铣削 (SEM/TEM) 使用 NPGS 软件 正在卸载 关闭 成像技术 FIB(日立)模式 NPGS 模式 常见问题解答 问题排查 离子泵 1 (IP1) 和离子泵 2 (IP2) 装有离子枪的柱子上部保持较高的真空 比样品室更能消除枪尖附近的污染物和氧化物。正常 真空值为 3x10-6IP1 和 1.5x10 的 Pa-5IP2。 加+液态金属离子源 (LMIS) FIB 的 LMIS 是一根连接到镓储存器的钨针。 钨尖端涂有熔化的 Ga,沉积 Ga+当引入足够的电势时,离子到达样品表面 穿过尖端和阳极。 聚光透镜 该镜头位于离子枪下方,有两种工作模式:M0 和 M1。 M0模式表示 聚光透镜关闭,束电流降低。通常使用M0设置 用于成像。 M1模式表示聚光镜头开启并使用 用于铣削活动。 对准器/像散器 对准器/像散校正器既可以将离子束与光轴对准, 离子束形状的像散校正。 主导流板 这些线圈具有静电特性,可以操纵离子束。 物镜 物镜将离子束集中并聚焦到样品表面。 标本室 样品室是真空下离子柱下方的封闭区域 标本所在的位置。正常真空值为5x10-2宾夕法尼亚州。该室封闭了样品台。 FIB 内部组件之旅(24 秒,无音频)展开 安全程序