足球即时比分 FIB 对齐

1。选择以下图像参数：

• 面积：256微米
• 缩放：x1
• 速度：快速
• 累计：1

2。打开 LMIS 选项卡并检查提取电流 Iext 约为 3.2–3.4 微安。如果没有，请使用滑块将其调整到该水平。

3。使用轨迹球找到适合对齐光束的区域 将用于您的 FIB 工作。选择一个可能被光束伤害牺牲的区域 在对齐过程中。该区域应该稳定且导电，具有一定的表面 地形。

4。打开屏幕顶部的“列调整”菜单。

5。首先在“柱调整”中“梁设置”下的“梁名称”中选择 M0–50 梁：

6。按连续扫描按钮。

7。将偏转器位移 X 和 Y 重置为零。

8。将扫描区域 x 缩放设置为 256 x 4 以可视化感兴趣的特征，然后 焦点。

对焦时，检查图像是否有方向扭曲（像散）和横向移位。 首先使用校准器 X 和 Y 与摆动器正确横向移动：打开。

接下来，使用 Stigmator XX 和 YY 纠正污损。进行小调整以改进 图像质量，然后重新检查焦点以查看污点是否消失。

9。根据需要设置对比度和亮度。

注意：在用高电流对准光束时，您可能需要不断移动样本 以防止样本受到侵蚀。

10。对齐每个光束后，单击“注册”保存光束条件。请注意 您对准的光束的光束电流。它应该在最大值和最小值之间 设置；如果束流超过最大值是可以接受的。