注意:在此步骤中集中注意力并注册非常重要。
1。单击获取图像。在区域 x 缩放 = 256 x 8 处,聚焦并配准 M1-200。
3。在区域 x 缩放 = 32 x 2 处,聚焦并配准 M1-100。
4。重复步骤 2 -3 直到样本为 0.6 µm。
5。聚焦并配准 M1-50。
7。对焦并配准 M1-50 或 M0-50。
8。最终铣削:
8.1。更改为面积 x 缩放 = 32 x 1。
8.3。输入 1 度倾斜。
8.4。将区域更改为区域 x 缩放 = 32 x 2 和速度:5。使用溅射工具进行绘制 具有以下参数的矩形:
- 尺寸:~11 x 0.5
- 时间:至少 4 分钟。每条边
- 扫描:参见下图(远离边缘)。
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将框正确放置在上边缘。
8.5。更改区域 x 缩放 = 32 x 8,然后按“制造开始”。多次运行磨坊 检查边缘。运行直到样本约为 70 nm。
注意:将区域 x 缩放更改为 32 x 8 后,仅垂直调整框。
8.6。更改为区域 x 缩放 = 32 x 1 和速度:快速。
8.7。在舞台菜单下,输入 -1 度进行倾斜。
8.8。将区域更改为区域 x 缩放 = 32 x 2 和速度:5。使用溅射工具进行绘制 具有以下参数的矩形:
- 尺寸:~11 x 0.5
- 时间:至少 4 分钟。每条边
- 扫描:查看左侧的图像(远离边缘)。
提醒:将区域 x 缩放更改为 32 x 8 后,仅垂直调整框。
8.8.1。将区域 x 缩放更改为 32 x 8,然后按“制造开始”。经营工厂很多 次检查边缘。运行直到样本约为 70 nm。
8.8.2。将区域 x 缩放更改为 32 x 1,速度:快速。在舞台菜单下,输入 0 度向后倾斜。
8.8.3。将区域 x 缩放更改为 32 x 8 并聚焦。您可能需要更改为速度:5。 单击获取图像并测量。
8.8.4。最终样本应为 50-70 nm。
9。取出后关闭 FIB。参见日立操作程序中的关机 FB-2000 FIB.






