注意：您必须使用正确的支架才能提起。
注意：提出程序可能会在两天内执行，而不是如图所示的一天 在程序中。
注意：微量采样系统主机由操纵控制器、支架组成 杆、尖端或探针以及杆疏散按钮。
1。检查中心位置：
1.1。对于图像参数Area x Zoom = 256 x 1，找到一个可见的标记和中心 它在屏幕上。
1.2。在“舞台”菜单下，按“内存”保存舞台位置：
内存 > C. 复制 > 保存 > 确定。
1.3。在“舞台”选项卡下，输入正确的 Z 位置。 （按 Enter 键记录 数据。如果输入正确，文本将变成黑色。）单击“开始”。
| 支架上 | Z 位置 |
|---|---|
| 硅晶圆 | 200 微米 |
| 硅片 + 1 片胶带 | -300微米 |
1.4。解锁 Z 轴线性执行器。逆时针手动倾斜Z轴线性执行器， 观察标记向上移动。当达到-60度时，标记应定位 在屏幕中央。 （如有必要，调整 Z 高度。）
2。将倾斜度恢复到 0 度。
3。在列调整菜单中，检查 M0-50 粗调焦距是否为 ~21.7。注册 然后停止光束。
4。将支架置于锁定位置。
4.1。关闭色谱柱真空控制面板上的 S.C. AIR LOCK VALVE 开关 控制台。
4.2。将支架笔直拉出直至停止，然后顺时针旋转几度 停下来并慢慢释放。
4.3。打开 S.C. 气锁阀。
5。按连续扫描按钮。
6。检查仓库位置：
6.1。在 DEPO 选项卡菜单下，选择喷嘴位置：Depo。
枪应该出现在屏幕的右上角区域。枪口边缘应 约为 1.5 x 1.5 英寸。
注意：如果喷枪未出现，请选择喷嘴位置：逃逸。把枪叫回来， 并重新运行该过程。如果这不起作用，请检查面积 x 缩放 = 256 x 1.如果还是看不到枪，请联系工作人员进行手动调整。
注意：如果枪看起来大于或小于所需尺寸，请寻求帮助 在继续之前。
6.2。单击粗焦滑块右侧五次。调整对比度 和亮度，以便您可以看到枪的细节（脊）。
6.3。单击粗调焦滑块左侧五次即可返回到 记录样本焦点。
6.4。在 DEPO 选项卡下，选择喷嘴位置：Escape。
7。检查微探针位置：
7.1。确保样品仍处于制动位置。 （参见上面的步骤 4。）
7.2。确保探头支架处于采样位置。
7.3。按 MANIPULATION CONTROLLER 上的 CALL 来调用探头。
7.4。使用操纵控制器上的轨迹球将尖端居中，然后聚焦 并注册。
注意：如果找不到尖端，请将区域更改为 L 扫描并调整焦点和对比度。
7.5。使用 FAST 速度将 Z 位置调至 1500。按 MEM 存储位置， 然后按 ESC 键移除探头。最后按“呼叫”将探头重新带入。 验证位置是否正确。
注意：如果探头没有返回到保存的位置，请找到尖端。仅移入 使用轨迹球向左和向右方向。然后，稍微向上或向下移动， 再次尝试向左和向右方向。重复该过程直到找到。
7.6。尽可能集中注意力并将笔尖移至屏幕最左侧（稍微偏离）。
7.7。从 DEPO 菜单中，选择喷嘴位置：Depo 以确保喷枪不会 与探头碰撞。
7.8。使用 Z 编码器旋钮将探头降低至 0，并将探头移动到 没错，所以它位于 depo 枪下方。
7.9。按下“BUZ ON”（蜂鸣开关）并“HOLD OFF”（保持关闭），然后将探头拉回原处，直到它接触到喷枪。
注意：当屏幕对比度发生变化时会发生触摸。虽然控制 板会“发出蜂鸣声”，您不能总是依赖于此，探头端可能会撞击 标本。
7.10。记录这个Z位置！ （一般在 792 左右，但有所不同。）