日立 FB-2000A FIB 培训索引 基础科学 形式和功能：第 1 部分 - 操作 形式和功能：第 2 部分 - 应用 内部组件 安全程序 样本制备 支架类型 准备选项 操作程序 初步 启动 标本交换 对齐 提出技术 用于提升技术的沉积 用于提升技术的粗铣 着陆用于提升技术第 1 部分的探针 着陆用于提升技术第 2 部分的探针 用于提升技术的精铣 钨沉积 位图图像铣削 (SEM/TEM) 使用 NPGS 软件 正在卸载 关闭 成像技术 FIB（日立）模式 NPGS 模式 常见问题解答 问题排查 初步 启动 标本交换 对齐 提出技术 提升技术沉积 用于提升技术的粗铣 着陆用于提升技术第 1 部分的探针 着陆提升技术探测器第 2 部分 用于提升技术的精铣 钨沉积 位图图像铣削 (SEM/TEM) 使用 NPGS 软件 正在卸载 关闭 操作程序：初步
